Dostawa aparatury naukowo-badawczej na potrzeby stanowiska do badania korelacji pomiędzy właściwościami strukturalnymi i elektrycznymi materiałów oraz układów cienkowarstwowych z dyfraktometrem rentgenowskim.

Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej potrzebuje dostawy fabrycznie nowej aparatury naukowo-badawczej do skorelowanych badań strukturalnych, elektrycznych i elektrochemicznych materiałów funkcjonalnych oraz układów cienkowarstwowych, zlokalizowanej w Warszawie. Zamówienie jest podzielone na dwie niezależne części: układ dyfraktometru rentgenowskiego z komorami pomiarowymi i wyposażeniem uzupełniającym oraz stację elektrochemiczną z wielokanałowymi cyklerami bateryjnymi. Dostawa obejmuje instalację, integrację, uruchomienie, kalibrację, testy odbiorowe, dokumentację oraz szkolenie użytkowników, a przewidywany czas realizacji to 20 tygodni. Kryteria oceny ofert to cena (60%), moc źródła promieniowania Cu z rotującą anodą (25%), wydłużenie okresu gwarancji (20%), dodatkowe przeglądy serwisowe po upływie okresu gwarancji (10%) oraz Help Desk po upływie okresu gwarancji (10%).

DOSTAWA KOMPLETNEGO SPEKTROMETRU OPTYCZNEJ SPEKTROMETRII EMISYJNEJ Z WYŁADOWANIEM JARZENIOWYM (GD-OES) DO ILOŚCIOWEJ ORAZ PROFILOWEJ ANALIZY WARSTW DLA WYDZIAŁU FIZYKI POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ

POLITECHNIKA WARSZAWSKA potrzebuje dostawy kompletnego spektrometru optycznej spektrometrii emisyjnej z wyładowaniem jarzeniowym (GD-OES) do ilościowej oraz profilowej analizy warstw dla Wydziału Fizyki Politechniki Warszawskiej. Dostawa ma trwać 6 miesięcy i ma być zrealizowana w Warszawie. Kryteria oceny ofert to: cena (60%), czas reakcji serwisu gwarancyjnego (15%), gwarancja (10%) oraz dostępność części zamiennych i rozwiązań serwisowych (15%).

Dostawa aparatury naukowo-badawczej – 3 części

Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu potrzebuje dostawy aparatury naukowo-badawczej w 3 częściach, z przewidywanym czasem realizacji zamówienia wynoszącym 22 tygodnie. Przedmiot zamówienia został szczegółowo opisany w Załączniku A do SWZ, a dostawa ma nastąpić w Poznaniu. Kryteria oceny ofert to cena brutto (40%), parametry techniczne (łącznie 49,9999%) oraz kryteria środowiskowo-eksploatacyjne (10%). W ramach parametrów technicznych oceniana będzie m.in. możliwość rozbudowy systemu o dodatkowe lasery wzbudzające i detektory, możliwość pomiarów czasu życia fluorescencji (FLIM), rozdzielczość XY obrazu, maksymalna częstotliwość impulsów lasera mikrodysekcyjnego, możliwość automatycznej rejestracji filmu z mikrodysekcji, zakres powiększeń oraz konstrukcja prowadzenia lasera. Kryteria środowiskowo-eksploatacyjne obejmują efektywność energetyczną systemu, serwisowalność i dostępność części (min. 10 lat) oraz modularność i rozbudowywalność.

Aparatura do wysokociśnieniowej syntezy zaawansowanych materiałów konstrukcyjnych i funkcjonalnych – system nr II - dostawa systemu do wycinania mikrootworów

Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego PAN potrzebuje dostawy laboratoryjnego, stołowego systemu do laserowego wiercenia i mikroobróbki w kompaktowej obudowie, przeznaczonego do wykonywania otworów w materiałach uszczelkowych oraz do przygotowywania próbek i środowisk próbek do eksperymentów z komórką diamentową DAC. System ma umożliwiać precyzyjną obróbkę materiałów, w tym materiałów nieprzewodzących, oraz bezpieczną, w pełni zdalną obsługę jako zamknięte urządzenie laserowe klasy 1. Dostawa ma nastąpić w Krakowie, a czas trwania umowy wynosi 42 dni. Kryteria oceny ofert to cena (60%) i okres gwarancji (40%).

AD/ZP/93/26 Dostawa elementów mikroskopu TEM Iliad w ramach rozbudowy mikroskopu TEM Iliad o funkcje tomografii elektronowej oraz 4D-STEM i system preparatyki próbek.

Politechnika Poznańska potrzebuje dostawy elementów mikroskopu TEM Iliad w ramach rozbudowy mikroskopu TEM Iliad o funkcje tomografii elektronowej oraz 4D-STEM i system preparatyki próbek wraz ze szkoleniem. Czas trwania zamówienia wynosi 6 miesięcy. Kryteria oceny ofert to cena (60%) oraz system zarządzania goniometrem mikroskopu TFS Iliad wraz z korekcją przesunięć X, Y i Z dla kolejnych kątów (40%).