SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI
Expired
The competition has expired without a winner being announced.
Brief
Simulatorer og trenningsutstyr
SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI
About the bid
- Contact phone
- 0955968213
- Contact email
- gare@imm.cnr.it
SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI
Custom Assessment Criteria
Start a free trial to ask your own questions about the tender and get AI-generated answers.
Award Criteria
Found no award criteria in the contract notice.
Qualification requirements
Found no qualification requirements in the contract notice.
Previous Contract Winners
Start a free trial to see who has won similar tenders for this buyer.
See the full notice
- Contracting authority
- CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE -Istituto per la Protezione Sostenibile delle Piante - Sede Secondaria di Bari
- Title
- SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI
- Type
- Main code
- Supplemental codes
- Location
- Catania
- Estimated value
- €970,000.00
CompetitionPrequalification
38970000Research, testing and scientific technical simulator
38430000Detection and analysis apparatus38433000Spectrometers