Hochvakuum-PVD-Beschichtungsanlage mit Elektronenstrahlverdampfer

Der Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-Nürnberg, benötigt eine Hochvakuum-PVD-Beschichtungsanlage mit Elektronenstrahlverdampfer zur Abscheidung verschiedener Materialien auf Probenoberflächen. Die Lieferung soll in Erlangen erfolgen. Die Vergabe erfolgt nach den Kriterien Preis (70 %) und Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog (30 %). Als Qualifikationsanforderung sind Referenzen zu spezifischen Lieferungen erforderlich.

Messgesamtsystem Erweiterung

Die Technische Universität München benötigt die Erweiterung eines Messgesamtsystems für eine Rapid Compression Expansion Maschine zur Untersuchung von Strömungs- und Verbrennungsprozessen mittels Shadowgraphy, PIV, OH*-Chemielumineszenz und Mie-Scattering. Die Lieferung der Messinstrumente soll in München, Landkreis, erfolgen und hat eine Dauer von 7 Monaten. LaVision GmbH hat heute einen ähnlichen Vertrag. Als Qualifikationsanforderungen sind eine Betriebshaftpflichtversicherung und mindestens drei preislich vergleichbare Referenzen mit ähnlichen optischen Submesssystemen aus den letzten 5 Geschäftsjahren nachzuweisen.

Auf- und Umrüstung einer Veeco K300 MOVPE-Anlage

Die Technische Universität Braunschweig benötigt die Aufrüstung und Umrüstung einer Veeco K300 MOVPE-Anlage. Die Lieferung der Güter erfolgt in Braunschweig, Deutschland. Als Qualifikationsanforderung sind Referenzen zu den angebotenen Dienstleistungen mittels Eigenerklärung einzureichen.

Beschaffung eines Beschichters zur Fertigung von Batterieelektroden

Die Universität Münster benötigt die Lieferung eines Beschichters zur Fertigung von Batterieelektroden. Die Lieferung erfolgt in Münster.

DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau benötigt den Kauf eines fabrikneuen, modular erweiterbaren Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, kurz AFM) für eine Lieferdauer von 6 Monaten in Kaiserslautern. Der Bieter muss nachweisen, dass mit dem angebotenen Rasterkraftmikroskop oder einem technisch vergleichbaren System innerhalb der letzten fünf Jahre mindestens 20 wissenschaftliche Publikationen in peer-reviewten Fachzeitschriften veröffentlicht wurden, die auf Messungen mit diesem System beruhen.