X-ray diffraction (XRD) system
Utgått
Konkurransen er utgått uten at vinner er annonsert.
Laboratorie- og analyseutstyr
Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.
Om anbudet
- Kontakt navn
- Ken Rune Myrvang
- Kontakt e-post
- k.r.myrvang@mn.uio.no
- Adresse
- Problemveien 7, 0371 Oslo
Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.
Egne vurderingskriterier
Start gratis prøveperiode for å stille egne spørsmål om anbudet og få KI-genererte svar.
Tildelingskriterier
Fant ingen tildelingskriterier i konkurransekunngjøringen.
Kvalifikasjonskrav
Fant ingen kvalifikasjonskrav i konkurransekunngjøringen.
Tidligere kontraktsvinnere
Start gratis prøveperiode for å se hvem som har vunnet lignende anbud hos denne oppdragsgiveren.
Se hele utlysningen
- Innkjøper
- Universitetet i Oslo
- Tittel
- X-ray diffraction (XRD) system
- Type
- Hovedkode
- Tilleggskoder
- Estimert verdi
- 2 500 000,00 kr