2026/2886 NTNU Campussamling K906.02 Scanningelektronmikroskop (SEM)

1105601 UiO Livsvitenskap brukerutstyr. K935.11 Superresolusjon mikroskop

Statsbygg trenger et invertert super-resolusjonsmikroskop med SMLM, SIM og TIRF modalitet for Livsvitenskapsbygget i Oslo, som skal brukes i et BSL3-laboratorium for studier av patogene bakterier og virus, samt deres interaksjoner med vertsceller og organoider/vev på enkeltcellenivå. Mikroskopet skal muliggjøre høyoppløselig fluorescensmikroskopi av levende mikrober og vert-patogen-interaksjoner, og skal leveres med sceninkubasjonskammer med CO2- og temperaturkontroll, motorisert scene med holdere for objektglass og multiwell-plater, samt to datamaskiner med programvare for mikroskopkontroll, analyse og etterbehandling av bilder. Tildelingskriteriene er kvalitet (65%), totalkostnad (30%) og service (5%). Kvalifikasjonskrav inkluderer dokumentasjon av inntil 3 relevante leveranser utført de siste 3 årene, samt en kort beskrivelse av leverandørens personell og tekniske enheter.

78195 LVB KLM Fluorescensmikroskop

Oslo universitetssykehus HF skal kjøpe to identiske, avanserte inverterte fluorescensmikroskoper til forskning og laboratoriearbeid ved mikrobiologiens forskningsseksjon, inkludert et BSL3-laboratorium, og ved farmakologisk avdeling i Oslo. Utstyret skal brukes til vurdering av cellemorfologi, konfluens og cytopatisk effekt samt flerkanals fluorescensmikroskopi og kvantitativ analyse av cellekulturer. Mikroskopene må kunne brukes med mikrotiterplater, dyrkningsskåler og flasker, og kunne utstyres med kamera og programvare for dokumentasjon, bildeopptak og enkel kvantitativ analyse. Det skal også tilbys opsjon på ett ytterligere mikroskop samt serviceavtaler og servicetjenester. Kontraktsperioden er oppgitt til 10 år.

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Danmarks Tekniske Universitet (DTU) needs the supply, delivery, installation, commissioning, and acceptance of one focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) dual-beam platform. This instrument will serve a multi-user research environment in the Copenhagen area for high-resolution surface imaging, site-specific cross-sectioning, TEM lamella preparation (including automated workflows), 3D FIB-SEM tomography, gas-assisted deposition and etching, nanoscale manipulation, and elemental microanalysis by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and ToF-SIMS. The award criteria are Price (30%) and Quality of the solution (70%). Suppliers must provide at least 3 references for comparable agreements, each with a value of at least DKK 10,000,000, concerning the supply, delivery, installation, commissioning, and acceptance of a FIB-SEM dual-beam platform or a comparable service, with the agreement not being more than 5 years old.