Dostawa zestawu dwóch orientometrów rentgenowskich zaprojektowanych specjalnie do pomiarów podłoży lub kryształów objętościowych, takich jak azotek galu (GaN), węglik krzemu (SiC) i podobnych.
Awarded
The competition has ended and a winner has been selected.
Laboratorieutstyr og analyseinstrumenter
PLEASE SCROLL DOWN FOR THE ENGLISH VERSION Przedmiotem zamówienia jest: Dostawa zestawu dwóch identycznych orientometrów rentgenowskich zaprojektowanych specjalnie do pomiarów podłoży lub kryształów objętościowych, takich jak azotek galu (GaN), węglik krzemu (SiC) i podobnych. Orientometr rentgenowski – Dwa identyczne urządzenia. Wymagania dotyczące orientometru rentgenowskiego: • Orientometr rentgenowski zaprojektowany specjalnie do pomiarów podłoży lub kryształów objętościowych, takich jak azotek galu (GaN), węglik krzemu (SiC) i podobnych. • Dedykowany termiczny agregat chłodzący do orientometru rentgenowskiego • Pojedynczy pomiar do przetwarzania podłoży lub kryształów objętościowych. • Możliwość pomiaru podłoży lub kryształów objętościowych do 110 mm i maksymalnej wadze 25 kg. • Możliwość pomiaru płaskiego położenia w 4 kierunkach (góra, dół, lewo, prawo). • Możliwość pomiaru różnych orientacji podłoży i kryształów. • Pomiar ręczny. • Pozycja wiązki promieniowania rentgenowskiego w odległości 70 mm od płyty nośnej. • Dokładność: ±0,02° • Powtarzalność: < 0,02° • Wysokość wiązki od podstawy (70 mm) Powierzchnia pomiarowa : - Wymiary mniej niż: 1,8 m (szer.) x 1,2 m (gł.) x 1,2 m (wys.) - Waga: mniej niż 500 kg Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ ENGLISH VERSION The subject of the order is: Delivery of a set of two X-ray orientometers specifically designed for measuring substrates or bulk crystals such as gallium nitride (GaN), silicon carbide (SiC) and the like. X-ray orientometer – two identical devices. Requirements for X-ray orientometer: • X-ray orientometer designed especially for wafer or ingot measurements such as gallium nitride (GaN), silicon carbide (SiC) and similar. • Dedicated thermal cooling unit for X-ray orientometer. • Single measurement to process wafers or ingots one at time. • Capable to measure wafer or ingot up to 110mm and maximum weight 25kG. • Capable to measure flat position in 4 directions (up, down, left, right). • Capable to measure different wafer and ingot orientation. • Manual system measurement. • X-ray beam position at 70mm of the carrier plate. • Accuracy : ±0,02° • Repeatability : < 0,02° • Beam height from base (70 mm) Footprint : • Footprint less than : 1,8m (W) x 1,2m (D) x 1,2m (H) • Weight : less than 500 Kg A detailed description of the subject of the order can be found in point 3 of the TOR
Result
- Winner
- DELTA TECHNOLOGIES INTERNATIONAL
- Number of bids
- 2
- Contract value
- PLN 864,961
About the bid
- Contact name
- Dział zamówień publicznych
- Contact phone
- +48226323628
- Contact email
- dnicia@unipress.waw.pl
- Address
- ul. Sokołowska 29/37, 01-142 Warszawa
PLEASE SCROLL DOWN FOR THE ENGLISH VERSION Przedmiotem zamówienia jest: Dostawa zestawu dwóch identycznych orientometrów rentgenowskich zaprojektowanych specjalnie do pomiarów podłoży lub kryształów objętościowych, takich jak azotek galu (GaN), węglik krzemu (SiC) i podobnych. Orientometr rentgenowski – Dwa identyczne urządzenia. Wymagania dotyczące orientometru rentgenowskiego: • Orientometr rentgenowski zaprojektowany specjalnie do pomiarów podłoży lub kryształów objętościowych, takich jak azotek galu (GaN), węglik krzemu (SiC) i podobnych. • Dedykowany termiczny agregat chłodzący do orientometru rentgenowskiego • Pojedynczy pomiar do przetwarzania podłoży lub kryształów objętościowych. • Możliwość pomiaru podłoży lub kryształów objętościowych do 110 mm i maksymalnej wadze 25 kg. • Możliwość pomiaru płaskiego położenia w 4 kierunkach (góra, dół, lewo, prawo). • Możliwość pomiaru różnych orientacji podłoży i kryształów. • Pomiar ręczny. • Pozycja wiązki promieniowania rentgenowskiego w odległości 70 mm od płyty nośnej. • Dokładność: ±0,02° • Powtarzalność: < 0,02° • Wysokość wiązki od podstawy (70 mm) Powierzchnia pomiarowa : - Wymiary mniej niż: 1,8 m (szer.) x 1,2 m (gł.) x 1,2 m (wys.) - Waga: mniej niż 500 kg Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ ENGLISH VERSION The subject of the order is: Delivery of a set of two X-ray orientometers specifically designed for measuring substrates or bulk crystals such as gallium nitride (GaN), silicon carbide (SiC) and the like. X-ray orientometer – two identical devices. Requirements for X-ray orientometer: • X-ray orientometer designed especially for wafer or ingot measurements such as gallium nitride (GaN), silicon carbide (SiC) and similar. • Dedicated thermal cooling unit for X-ray orientometer. • Single measurement to process wafers or ingots one at time. • Capable to measure wafer or ingot up to 110mm and maximum weight 25kG. • Capable to measure flat position in 4 directions (up, down, left, right). • Capable to measure different wafer and ingot orientation. • Manual system measurement. • X-ray beam position at 70mm of the carrier plate. • Accuracy : ±0,02° • Repeatability : < 0,02° • Beam height from base (70 mm) Footprint : • Footprint less than : 1,8m (W) x 1,2m (D) x 1,2m (H) • Weight : less than 500 Kg A detailed description of the subject of the order can be found in point 3 of the TORMain features of the procedure1. Oferta którą składa Wykonawca powinna zawierać: 1.1. Wypełniony formularz oferty - wzór-Załącznik nr 1 do SWZ. 1.2. Pełnomocnictwo w formie zgodnej z wymaganiem określonym w ust. 12.6 SWZ jeżeli ustanowiono pełnomocnika; 1.3. Odpis lub informacja z Krajowego Rejestru Sądowego, Centralnej Ewidencji i Informacji o działalności Gospodarczej lub innego właściwego rejestru w celu potwierdzenia, że osoba działająca w imieniu Wykonawcy jest umocowana do jego reprezentowania lub dane umożliwiające dostęp do tych dokumentów za pomocą bezpłatnych i ogólnodostępnych baz danych. 1.4. Oświadczenie, z którego wynika, że w stosunku do wykonawcy nie zachodzi podstawa wykluczenia przewidziana w art. 5k rozporządzenia 833/2014 w brzmieniu nadanym rozporządzeniem 2022/576 oraz art. 7 ust. 1 Ustawy z dnia 13 kwietnia 2022 r. o szczególnych rozwiązaniach w zakresie przeciwdziałania wspieraniu agresji na Ukrainę oraz służących ochronie bezpieczeństwa narodowego (Dz. U. z 2022 r. poz. 835)- (wzór Zał. nr 2 do SWZ) 1.5. Przedmiotowe środki dowodowe, o których mowa w ust. 7.7 SWZ – specyfikacje techniczne. 2. Szczegółowe informacje o dokumentach składanych wraz z ofertą znajdują się w rozdziale 12 SWZ 3. Zamawiający wezwie Wykonawcę, którego oferta została najwyżej oceniona, do złożenia w wyznaczonym terminie, nie krótszym niż 10 dni od dnia wezwania, aktualnych na dzień złożenia następujących podmiotowych środków dowodowych: 3.1. informacji z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie art. 108 ust. 1 pkt 1 i 2 Ustawy oraz art. 108 ust. 1 pkt 4 Ustawy, dotyczącej orzeczenia zakazu ubiegania się o zamówienie publiczne tytułem środka karnego 3.2. oświadczenia Wykonawcy, w zakresie art. 108 ust. 1 pkt 5 ustawy Pzp, wzór - Zał. nr 3 do SWZ. 3.3. oświadczenia Wykonawcy o aktualności informacji zawartych w formularzu JEDZ, w zakresie podstaw wykluczenia z postępowania wskazanych przez Zamawiającego, o których mowa w: a) art. 108 ust. 1 pkt 3 Ustawy, b) art. 108 ust. 1 pkt 4 Ustawy, dotyczących orzeczenia zakazu ubiegania się o zamówienie publiczne tytułem środka zapobiegawczego, c) art. 108 ust. 1 pkt 5 Ustawy, dotyczących zawarcia z innymi wykonawcami porozumienia mającego na celu zakłócenie konkurencji, d) art. 108 ust. 1 pkt 6 Ustawy, (wzór – zał. nr 4 do SWZ) 3.4. oświadczenia, o którym mowa w art. 125 ust. 1 oraz w pkt 7.8 niniejszej SWZ – formularz JEDZ - wzór - Załącznik nr 5 do SWZ. Zgodnie z art. 139 ust 2 Zamawiający żąda powyższego oświadczenia wyłącznie od wykonawcy, którego oferta została najwyżej oceniona. 4. Wykonawca nie jest zobowiązany do złożenia podmiotowych środków dowodowych, jeżeli może je uzyskać za pomocą bezpłatnych i ogólnodostępnych baz danych, w szczególności rejestrów publicznych w rozumieniu ustawy z 17 lutego 2005 r. o informatyzacji działalności podmiotów realizujących zadania publiczne, o ile Wykonawca wskazał w oświadczeniu, o którym mowa w art. 125 ust. 1 ustawy – formularzu JEDZ, dane umożliwiające dostęp do tych środków 5. Jeżeli Wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej składa informacje wskazane w ust 7.3 SWZ. 6. W przypadku Wykonawców wspólnie ubiegających się o udzielenie zamówienia podmiotowe środki dowodowe - na potwierdzenie braku podstaw wykluczenia, składa każdy z Wykonawców występujących wspólnie. 7. Szczegółowe informacje na temat wymaganych oświadczeń, dokumentów, podmiotowych i przedmiotowych środków dowodowych znajdują się w rozdziale 7 SWZ 8. Zamawiający, zgodnie z art. 139 Ustawy, przewiduje odwróconą kolejność czynności. 9. Zamawiający może unieważnić postępowanie na podstawie art.257 ustawy. 10. Projektowane postanowienia umowy, w tym informacje na temat płatności stanowi Załącznik nr 6 do SWZ. 11. Postępowanie prowadzone jest w języku polskim i angielskim. Wszelkie oświadczenia, zawiadomienia będą sporządzane w języku polskim i angielskim. Umowa sporządzona będzie w języku polskim i angielskim. Zamawiający prowadzi postępowanie w dwóch językach zgodnie z art. 20 ust. 3 ustawy Pzp, z powodu możliwości poszerzenia kręgu wykonawców i z uwagi na specjalistyczny przedmiot zamówienia. W przypadku rozbieżności pomiędzy obiema wersjami językowymi rozstrzygająca będzie polska wersja językowa.
Custom Assessment Criteria
Start a free trial to ask your own questions about the tender and get AI-generated answers.
Award Criteria
Description
Kryterium Cena oferty brutto (KC)
Description
Okres gwarancji
Qualification requirements
Found no qualification requirements in the contract notice.
Previous Contract Winners
Start a free trial to see who has won similar tenders for this buyer.
See the full notice
- Contracting authority
- Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk
- Title
- Dostawa zestawu dwóch orientometrów rentgenowskich zaprojektowanych specjalnie do pomiarów podłoży lub kryształów objętościowych, takich jak azotek galu (GaN), węglik krzemu (SiC) i podobnych.
- Type
- Main code
- Supplemental codes
- Location
- Warszawski wschodni
No supplemental codes from buyer…