Elektronenstrahllithografie

Der Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-Nürnberg, benötigt ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM). Die Lieferung erfolgt in Erlangen. Die Vergabe erfolgt nach den Kriterien Preis (60%) und Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog (40%). Als Qualifikationsanforderung sind Referenzen zu ähnlichen Lieferungen erforderlich.

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena benötigt ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern, das eine einfache Bedienung und wartungsarme Instandhaltung ermöglicht. Die Lieferung erfolgt in Jena. Tescan GmbH hat einen ähnlichen Vertrag heute. Bewerber müssen einen jährlichen Umsatz von mindestens 232.000 EUR im relevanten Geschäftsbereich nachweisen, eine Betriebshaftpflichtversicherung mit Deckungssummen von mindestens 1.000.000 € für Personenschäden, 500.000 € für Sach- und Umweltschäden und 100.000 € für Vermögensschäden vorweisen, sowie drei vergleichbare Referenzaufträge aus den letzten drei Geschäftsjahren einreichen.

DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau benötigt den Kauf eines fabrikneuen, modular erweiterbaren Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, kurz AFM) für eine Lieferdauer von 6 Monaten in Kaiserslautern. Der Bieter muss nachweisen, dass mit dem angebotenen Rasterkraftmikroskop oder einem technisch vergleichbaren System innerhalb der letzten fünf Jahre mindestens 20 wissenschaftliche Publikationen in peer-reviewten Fachzeitschriften veröffentlicht wurden, die auf Messungen mit diesem System beruhen.

Universalprüfmaschine

Die Technische Universität Bergakademie Freiberg benötigt die Lieferung einer Universalprüfmaschine nach Mittelsachsen. Die Vergabe erfolgt auf Basis des Preises (80 %) und der Leistung (20 %), wobei spezifische Leistungsmerkmale wie Kalibrierung nach DAkkS in Genauigkeitsklasse 0.5, garantierte Servicezeit von 48 Stunden und eine Gewährleistungsdauer von mindestens 48 Monaten zusätzliche Punkte ergeben können. Als Qualifikationsanforderungen sind unter anderem der Nachweis einer gültigen Betriebs- bzw. Berufshaftpflichtversicherung sowie mindestens 3 abgeschlossene, gleichwertige und vergleichbare Referenzleistungen aus den letzten 3 Geschäftsjahren erforderlich.

Scanning electron microscope for imaging and quantitative analysis in geological samples

ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services needs a new scanning electron microscope (SEM) equipped with a field emission gun, secondary electrons detector (SE) and high-performance backscattered electron detectors (BSE), and a state-of-the-art large area (≥ 100 mm2) energy dispersive spectrometer (EDS) for imaging and quantitative analysis in geological samples. The instrument should have a large chamber to allow a minimum of 3 petrographic thin sections and 6 one-inch epoxy round mounts, and be programmable for automated quantitative EDS analyses lasting over 24 hours. The main goal is to provide precise and accurate quantitative analyses by EDS using a rigorous quantification protocol. The delivery location is Zürich. Offers for panchromatic and/or entry-level monochromatic cathodoluminescence detectors are also welcome. The award criteria are based on quality.