Fizeau-Interferometers

Profilometer (optisch) - PR1245725-2050-W

Die Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. benötigt die Lieferung eines optischen Profilometers. Die Lieferung soll in Freiburg im Breisgau erfolgen. Die Vergabe erfolgt auf Basis des Preises (100%). Als Qualifikationsanforderung wird der Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre herangezogen.

Spektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena benötigt einen spektral aufgelösten Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nm zur Charakterisierung von Photolumineszenzeigenschaften, der im angegebenen Wellenlängenbereich sensitiv sein und eine Auflösung von mindestens 0,2 nm erreichen muss. Der Detektor muss die in Anlage 2 aufgeführten Komponenten und technischen Leistungsparameter erfüllen und soll in Jena geliefert werden. Bewerber müssen drei vergleichbare Referenzaufträge aus den letzten fünf Geschäftsjahren vorlegen, die inhaltlich und vom Komplexitätsgrad her den Leistungsanforderungen gemäß Anlage 2 entsprechen, sowie einen Jahresumsatz von mindestens 220.000 EUR im relevanten Geschäftsbereich in den letzten drei Jahren nachweisen. Zudem ist eine Betriebshaftpflichtversicherung mit einer Deckungssumme von mindestens 1.000.000 € für Personenschäden, 500.000 € für Sach- und Umweltschäden und 100.000 € für Vermögensschäden erforderlich.

Hochleistungs-Erbium-Faser-Laser - PR1261401-2660-W

Die Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. benötigt einen Hochleistungs-Erbium-Faser-Laser für eine Lieferdauer von 7 Monaten, der in Jena geliefert werden soll. Die Vergabe erfolgt auf Basis von technischen Merkmalen (50 %) und Preis (50 %). Als Qualifikationsanforderung wird der Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre herangezogen.

Nanoskopie-Mikroskopsystem - PR1232741-3870-W

Die Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. benötigt ein Nanoskopie-Mikroskopsystem für eine Lieferzeit von 4 Monaten in Göttingen. Die Vergabe erfolgt auf Basis von Preis (80 %) und Lieferzeit (20 %). Als Qualifikationsanforderung ist der Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre anzugeben.

Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes

Die Technische Universität Hamburg benötigt einen vollständig funktionsfähigen, kalibrierbaren Millimeterwellen-Interferometriemessplatz zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und -Antennen. Der Messplatz soll die Kernfunktionen Netzwerkanalyse, Spektral-/Signalanalyse sowie analoge und vektorielle Signalgeneration bis 170 GHz abdecken und wird insbesondere für die experimentelle Untersuchung von Millimeterwellen-Interferometrie und Radar eingesetzt. Die Lieferung erfolgt in Hamburg. Die Zuschlagskriterien sind Preis (40 %) und Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog (60 %). Als Qualifikationsnachweis ist die technische und berufliche Leistungsfähigkeit im Blatt "Eignungsnachweis" auszufüllen und mitzuliefern.