Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Laboratorie-, optisk- og presisjonsutstyr
Lunds universitet needs a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for high-resolution imaging, materials analysis, and sample preparation for TEM analysis and MAX IV synchrotron experiments, to be delivered in Skåne län, with a maximum total value of 28,000,000 SEK. The award criteria is Price.
Om anbudet
- Kontakt navn
- Sarah Salman
- Kontakt telefon
- 0000
- Kontakt e-post
- sarah.salman@eken.lu.se
- Adresse
- Box 188, 221 00 Lund
Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.
Egne vurderingskriterier
Start gratis prøveperiode for å stille egne spørsmål om anbudet og få KI-genererte svar.
Tildelingskriterier
Kvalifikasjonskrav
Fant ingen kvalifikasjonskrav i konkurransekunngjøringen.
Tidligere kontraktsvinnere
Start gratis prøveperiode for å se hvem som har vunnet lignende anbud hos denne oppdragsgiveren.
Se hele utlysningen
- Innkjøper
- Lunds universitet
- Tittel
- Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
- Type
- Hovedkode
- Tilleggskoder
- Lokasjon
- Skåne län
- Estimert verdi
- 28 000 000,00 SEK