Dünnschicht Röntgendiffraktometer

Die Johannes Gutenberg-Universität Mainz benötigt ein Dünnschicht-Röntgendiffraktometer, wie im Leistungsverzeichnis beschrieben, für die Lieferung in Mainz. Der maximale Gesamtauftragswert beträgt 500.000 EUR. Die Vergabe erfolgt auf Basis der Qualität (100%), wobei die Punktzahlen für die Zuschlagskriterien Z3 und Z6 auf maximal 3,00 Punkte begrenzt sind.

DFG-GZ: EXC 3092_1_4 (A 206) Hochdurchsatzplattform

Die Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V. benötigt die Lieferung einer Hochdurchsatzplattform für die Universität München. Die Vergabe erfolgt auf Basis des besten Preis-Leistungs-Verhältnisses, wobei der technische Wert und der Preis jeweils zu 50 % gewichtet werden. Als Qualifikationsanforderung ist die Benennung mindestens einer erfolgreichen Installation von Geräten vergleichbarer Leistungsklasse innerhalb der letzten 3 Jahre erforderlich.

Neubau Biophotonik-Gebäude - VE 4731 Laboreinrichtungen

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V. benötigt Bau- und Anlagendienstleistungen für Laboreinrichtungen im Rahmen des Neubaus des Biophotonik-Gebäudes in Jena. Die Vergabe erfolgt auf Basis des Preises (100 %).

Platzhalter

Die Technische Universität München benötigt die Lieferung von Labor-, optischen und Präzisionsgeräten für einen Zeitraum von 6 Monaten in München. Die Beschaffung umfasst zwei Lose: Los 1 betrifft ein kryogenfreies Hochfeld-Kryostatsystem für ortsaufgelöste magnetooptische Untersuchungen an niedrigdimensionalen Materialien, und Los 2 ein modulares Streakkamera-System zur zeitaufgelösten Detektion ultrakurzer optischer Signale. Die Zuschlagskriterien sind Preis (50 %) und Liefer- und Installationszeitpunkt (50 %). Bewerber müssen mindestens fünf vergleichbare Referenzen aus den letzten fünf Geschäftsjahren vorweisen, die kryogenfreie Closed-Cycle-Kryostate in hochauflösender optischer Mikroskopie bei Magnetfeldern von mehr als 1 T betreffen.

Elektronenstrahllithografie

Der Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-Nürnberg, benötigt ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM). Die Lieferung erfolgt in Erlangen. Die Vergabe erfolgt nach den Kriterien Preis (60%) und Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog (40%). Als Qualifikationsanforderung sind Referenzen zu ähnlichen Lieferungen erforderlich.