Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)
- Frist
- Nov 27,Fragen bis Nov 19,
- Zuschlag
- Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog 50 %
Brief
Der Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth, benötigt ein hochauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten zur Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala. Das System soll insbesondere 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten und driftarme Langzeitmessungen für Forschungsanwendungen ermöglichen und nach Bayreuth geliefert werden. Die Angebote werden zu gleichen Teilen nach Preis (50 %) und Qualität (50 %) bewertet.
Laboratorie-, optisk- og presisjonsutstyr
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Beschreibung
https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/720dd6ee-34a2-4ae8-b2d9-0cb5d7a2b23a/awardcriteria
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Aus der Bekanntmachung
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
Kontakt
Abt. II - Vergabestellevergabestelle@uni-bayreuth.de- WettbewerbTyp
- Bayreuth, Kreisfreie StadtOrt
- 38514200HauptcodeRastersondenmikroskope
- 38510000Mikroskope