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    Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

    IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

    Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

    1. Competition notice published

      Sep 11, 5:12 AMSeptember 11, 2026 5:12 AM

    2. Questions deadline

      Oct 5, 9:59 PMOctober 5, 2026 9:59 PM

    3. Tender submission deadline

      Oct 13, 10:00 AMOctober 13, 2026 10:00 AM

    4. Tender validity period

      Dec 11, 11:00 AMDecember 11, 2026 11:00 AM

    Brief

    Tender search/IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik/Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
    Brief

    Laboratorie- og analyseutstyr

    IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik needs a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system should support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and integrate with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training, and integration support. The delivery, installation, commissioning, and integration will take place in Frankfurt (Oder), Germany.

    About the bid

      Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

      Contact name
      Beschaffung
      Contact phone
      +49 335-5625337
      Contact email
      vergabestelle@ihp-microelectronics.com
      Address
      Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder)

    Custom Assessment Criteria

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    Award Criteria

      Found no award criteria in the contract notice.

    Qualification requirements

    • Description

      Eintragung in das Handelsregister

      Documentation Requirement

      Mit dem Angebot; Mittels Eigenerklärung

    Previous Contract Winners

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    Contracting authority
    IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
    Title
    Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
    Type
    CompetitionPrequalification
    Main code
    38540000Machines and apparatus for testing and measuring
    Supplemental codes

    No supplemental codes from buyer…

    Location
    Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt

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