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Spain: Tenders/Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid/Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

  1. Competition notice published

    Jun 23, 2025 6:15 AMJune 23, 2025 6:15 AM

  2. Supplier selection

    Oct 7, 2025 12:00 AMOctober 7, 2025 12:00 AM

  3. Contract signed

    Oct 29, 2025 12:00 AMOctober 29, 2025 12:00 AM

  4. Result notice published

    Oct 30, 2025 6:27 AMOctober 30, 2025 6:27 AM

Brief

Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

Awarded

The competition has ended and a winner has been selected.

Deadline
Oct 29, 2025Expired
Award
Detector extra en cámara 5% and 14 more
Procedure
OpenSingle stage
Agreement
Buying goodsover 6 months

Brief

Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopiade la Universidad Complutense de Madrid, financiado por la Comunidad de Madrid y cofinanciado por la Unión Europea.

Laboratorie-, optisk- og presisjonsutstyr

Result

TED
  • FEI Europe BV Sucursal en España
    Winner
  • Number of bids
    1
  • Contract value
    €705,850

Custom Assessment Criteria

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Award Criteria

  • Description

    PRECIO.

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  • Description

    Detector extra (adicional a los detectores en el PPT) en cámara.

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  • Description

    Extensión del plazo de garantía.

    Source

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  • Description

    Licencias infinitas del procesado del sistema EDX.

    Source

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  • Description

    Sistema de limpieza por plasma acoplado a la cámara.

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  • Description

    Grado de automatización del proceso de fabricación de lamella.

    Source

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  • Description

    Grado de integración de todos los elementos del suministro dentro del software de control del FIB.

    Source

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  • Description

    Presencia de sistemas de compensación de la carga durante el uso del haz de iones.

    Source

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  • Description

    Versatilidad del equipo en cuanto a que permita registrar imágenes SEM y STEM en tiempo real.

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  • Description

    Disponer de Software de programación mediante Python.

    Source

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  • Description

    Se valorará si permite la captura de imágenes con resolución al menos de 65kx65k.

    Source

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  • Description

    Sistema de afilado de la punta que esté totalmente integrado en el software.

    Source

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  • Description

    Capacidad del equipo para soldar la lamella a la rejilla sin necesidad de usar deposición de ningún tipo.

    Source

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  • Description

    Versatilidad del detector STEM atendiendo especialmente al número de sectores y los modos de toma de imagen en STEM.

    Source

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  • Description

    Versatilidad del portamuestras, teniendo en cuenta el número de posiciones disponibles.

    Source

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  • Description

    Versatilidad en cuanto al número de segmentos y la composición de señales del detector BSE en cámara.

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  • Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopiade la Universidad Complutense de Madrid, financiado por la Comunidad de Madrid y cofinanciado por la Unión Europea.

  • Contact

    Rectorado de la Universidad Complutense de Madridscont@ucm.es
  • Type
    Result
  • Location
    Madrid
  • Main code
    Scanning electron microscopes
    38511100

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