zwei Einkristall-Röntgendiffraktometer

High resolution X-ray inspection tool

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | IMWS needs a high-resolution X-ray inspection tool for the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, and damage characteristics in highly integrated 2.5/3D components. The tool, including assembly, commissioning, necessary connections, approvals/certifications, and operating software, is to be delivered to Halle (Saale), Kreisfreie Stadt, Germany. The purpose is to enhance capabilities for advanced failure analysis and material characterization, supporting the ramp-up of new heterogeneous integration technologies. Award criteria are Price (90%) and Quality (10%).

26/01724 Anskaffelse av XRF spektrometer

NIBIO, Norsk institutt for bioøkonomi, trenger å kjøpe et benchtop røntgenfluorescensspektrometer (XRF) for elementanalyse av jord- og matprøver til sine forskningsfasiliteter i Innlandet. Kontrakten har en varighet på 1 år og en maksimal totalverdi på 1,5 millioner kroner. XRF-systemet skal inngå som en del av NIBIOs eksisterende portefølje av analytiske sensorer og komplementere andre målemetoder, samt støtte utviklingen av standardiserte metoder for datainnsamling, kalibrering og sammenlignbarhet av data på tvers av prosjekter.

Universität zu Köln - Ultrasensitives Massenspektrometer

Die Universität zu Köln, Abteilung 64 - Einkauf, benötigt den Kauf und die Lieferung eines ultrasensitiven Massenspektrometers für Einzelzellproteomik und Gesamtproteomanalyse. Die Lieferung soll in Köln erfolgen. Die Vergabe erfolgt ausschließlich nach dem Preis (100 %). Mit dem Angebot muss eine technische Beschreibung mit allen Spezifikationen des angebotenen Ultrasensitiven Massenspektrometers eingereicht werden.

FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Die Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle Bau benötigt ein FIB & SEM System (HHI-01) zur Lieferung nach Berlin für eine Dauer von 12 Monaten. Die Vergabe erfolgt auf Basis der technischen Spezifikation (50 %), Nachhaltigkeit (10 %) und des Preises (40 %). Es werden drei Referenzprojekte aus den letzten fünf Jahren gefordert, die vergleichbar in Art und Umfang sind, wobei es sich um Plasma-FIB-Systeme handeln muss, die Xenon als Gas verwenden und in der Halbleiterfertigung oder -forschung eingesetzt wurden.

4D-Hochauflösungsfluoreszenzmikroskop

Die Christian-Albrechts-Universität zu Kiel benötigt ein 4D-Hochauflösungsfluoreszenzmikroskop mit einem maximalen Gesamtwert von 220.000 EUR, das in Kiel geliefert werden soll. Die Vergabe erfolgt nach den Kriterien Preis (40 %) und Leistungskriterien (60 %). Als Qualifikationsnachweis sind Referenzen erforderlich.