Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes
Laboratorie- og analyseutstyr
Die Technische Universität Hamburg benötigt einen vollständig funktionsfähigen, kalibrierbaren Millimeterwellen-Interferometriemessplatz zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und -Antennen. Der Messplatz soll die Kernfunktionen Netzwerkanalyse, Spektral-/Signalanalyse sowie analoge und vektorielle Signalgeneration bis 170 GHz abdecken und wird insbesondere für die experimentelle Untersuchung von Millimeterwellen-Interferometrie und Radar eingesetzt. Die Lieferung erfolgt in Hamburg. Die Zuschlagskriterien sind Preis (40 %) und Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog (60 %). Als Qualifikationsnachweis ist die technische und berufliche Leistungsfähigkeit im Blatt "Eignungsnachweis" auszufüllen und mitzuliefern.
Über das Angebot
- Kontaktperson
- Zentraler Einkauf
- Kontakttelefon
- +49 40428783212
- Kontakt-E-Mail
- ausschreibungen@tuhh.de
- Adresse
- Schloßmühlendamm 32, 21073 Hamburg
Gegenstand der Beschaffung ist ein vollständig funktionsfähiger, kalibrierbarer und für den wissenschaftlichen Laborbetrieb geeigneter Millimeterwellen-Interferometriemessplatz zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und -Antennen. Die drei Kernfunktionen Netzwerkanalyse, Spektral-/Signalanalyse sowie analoge und vektorielle Signalgeneration müssen die für die jeweilige Funktion erforderlichen Frequenzbereiche bis 170 GHz abdecken. Der Messplatz wird insbesondere für die experimentelle Untersuchung von Millimeterwellen-Interferometrie und Radar eingesetzt. Wesentliche Anwendungen sind die Untersuchung von Nichtlinearitäten, Mehrfachreflexionen, Phasen- und Amplitudenfehlern, Rausch- und Phasenrauscheigenschaften sowie die Charakterisierung von Antenne-Funkkanal-Ziel-Wechselwirkungen in kontrollierten Freiraum- und Nahfeldszenarien.
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Zuschlagskriterien
Beschreibung
Preis
Beschreibung
https://fbhh-evergabe.web.hamburg.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/1fbfa136-c6d8-4172-b2f7-8ec3e3bedfaa/awardcriteria
Qualifikationsanforderungen
Beschreibung
Der Nachweis zur Erbringung der technischen Anforderungen ist im Blatt "Eignungsnachweis" auszufüllen und mit abzugeben.
Dokumentationsanforderung
Geforderte Nachweise sind separat mitzuliefern.
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- Auftraggeber
- Technische Universität Hamburg
- Titel
- Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes
- Typ
- Hauptcode
- Zusätzliche Codes
- Ort
- Hamburg