Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
Abgelaufen
Das Vergabeverfahren ist abgelaufen, ohne dass ein Gewinner bekannt gegeben wurde.
Laboratorie- og analyseutstyr
Die IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik benötigt die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Einweisung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern in Frankfurt (Oder). Die Vergabe erfolgt nach den Kriterien Preis (50%), technische Qualität (40%) und Garantie (10%).
Über das Angebot
- Kontaktperson
- Beschaffung
- Kontakttelefon
- +49 33525309
- Kontakt-E-Mail
- vergabestelle@ihp-microelectronics.com
- Adresse
- Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder)
Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals.
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Zuschlagskriterien
Beschreibung
Preiskriterium für "Preis-Quotient-Methode"
Beschreibung
Technische Qualität
Beschreibung
Garantie
Qualifikationsanforderungen
Beschreibung
Eintragung in das Handelsregister
Dokumentationsanforderung
Mit dem Angebot; Mittels Eigenerklärung
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- Auftraggeber
- IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Titel
- Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
- Typ
- Hauptcode
- Zusätzliche Codes
- Ort
- Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt
Keine zusätzlichen Codes vom Käufer…
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