Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik needs a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system should support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and integrate with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training, and integration support. The delivery, installation, commissioning, and integration will take place in Frankfurt (Oder), Germany.

Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers

IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik needs a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use. The system, to be delivered to Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt, Germany, must include a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty, and spare-parts supply.

Lieferung inkl. Montage und Installation eines Halbautomatischen On-Wafer Prober gemäß Leistungsbeschreibung

Die Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig benötigt die Lieferung, Montage und Installation eines halbautomatischen On-Wafer Probers in Braunschweig. Die Vergabe erfolgt auf Basis von Qualität (70 %) und Preis (30 %).

Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes

Die Technische Universität Hamburg benötigt einen vollständig funktionsfähigen, kalibrierbaren Millimeterwellen-Interferometriemessplatz zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und -Antennen. Der Messplatz soll die Kernfunktionen Netzwerkanalyse, Spektral-/Signalanalyse sowie analoge und vektorielle Signalgeneration bis 170 GHz abdecken und wird insbesondere für die experimentelle Untersuchung von Millimeterwellen-Interferometrie und Radar eingesetzt. Die Lieferung erfolgt in Hamburg. Die Zuschlagskriterien sind Preis (40 %) und Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog (60 %). Als Qualifikationsnachweis ist die technische und berufliche Leistungsfähigkeit im Blatt "Eignungsnachweis" auszufüllen und mitzuliefern.

DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau benötigt den Kauf eines fabrikneuen, modular erweiterbaren Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, kurz AFM) für eine Lieferdauer von 6 Monaten in Kaiserslautern. Der Bieter muss nachweisen, dass mit dem angebotenen Rasterkraftmikroskop oder einem technisch vergleichbaren System innerhalb der letzten fünf Jahre mindestens 20 wissenschaftliche Publikationen in peer-reviewten Fachzeitschriften veröffentlicht wurden, die auf Messungen mit diesem System beruhen.